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手动探针台是一种广泛应用于半导体、光电、集成电路及封装测试领域的设备。它在复杂、高速器件的精密电气测量中发挥着重要作用，旨在确保产品质量及可靠性，同时降低研发时间和制造成本。通过在线测试，用户可以从芯片制造完成后就对器件进行质量监控，这使得探针台成为研究中的不可或缺工具，尤其在对集成电路、三极管、二极管及光电探测器等器件进行IV/CV参数测试时。

手动探针台通过连接待测物与测试仪器，结合自带驱动与测试软件，能够独立完成电学特性测试，为精密器件提供高效的测试平台。其与示波器、频谱仪等多种测试仪器的兼容性，使其成为研究人员的理想选择。

在操作流程上，探针台通过将待测物吸附在载物台上并推入探针台腔体内，利用探针座的精密移动，结合显微镜观察，将探针与待测物接触。随后，探针座上的电缆与仪表连接，借助自带软件完成参数测量与提取，结果可方便地进行保存与对比分析。

作为高性能探针台，产品具备以下特点：采用8英寸设计，探针移动范围达203mm或以上，提供宽大的测试空间，能够适用于裸芯片、封装芯片及器件的测试。同时，探针台支持光纤接口，未来可升级以满足光电测试需求。

在精度方面，载物台在XY方向具有±1pm（0.04mls）的分辨率，小于2μm（0.08mls）的重复精度，最大移动速度可达50mm/sec。Z方向则提供5mm（0.19in）的移动范围，分辨率及重复精度均为±1pm（0.04mls）。此外，系统支持软件控制载台的X、Y、Z方向位置，实现精确的测试参数调节。

这种设计不仅提升了测试效率，还为后续测试流程提供了高可靠性保障。

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